Трехмерный профиломер Leica DCM8 используется для конфокальной сканирующей микроскопии с целью изучения микроскопических образцов с большим разрешением. С его помощью можно получить изображения на различных глубинах фокальной плоскости и создать на основе этих снимков трехмерное изображение.


Под заказ

Заказать

Наиболее распространенные сферы применения – исследование в медицинской сфере и биологии, материаловедение и изучение явлений в полупроводниках. Часто профиломер применяется для метрологии поверхности с целью установления соответствия действующим стандартам. С его помощью можно измерить шероховатость поверхности с точностью до 1 нм.

Одной из особенностей этой модели микроскопа является наличие моторизированного столика. С его помощью можно перемещать образец по трем осям. Предусмотрен отдельный механизм защиты от вибраций, которые могут оказать влияние на точность измерений.

Дополнительные преимущества устройства:

  • Поддерживается три метода измерения пленок разной толщины;
  • Для подсветки используются четыре светодиода, что дает возможность получать цветное изображение;
  • Поддерживается использование объективов с разной кратностью для конфокальных и оптических режимов, интерферометрии.
Точность (увеличение 20 x)с открытым контуром: относительная ошибка
Повторяемость (увеличение 50 x)конфокальный режим / VSI: точность = 0,003 мкм (3 нм)
Виброизоляцияактивная или пассивная
Условия эксплуатациитемпература: от 10° до 35°C
Размеры и массаД x Ш x В = 573 мм x 390 мм x 569 мм
Отражающая способность образца0,1 - 100%